Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik: Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Sie kommen aus Wissenschaft, Industrie oder auch Forschung? Dieser Kurs richtet sich an alle, die analytische Probleme lösen wollen. Unser qualifiziertes Team erklärt Ihnen Schritt für Schritt den Umgang mit dem Rasterelektronenmikroskop. Nach diesem dreitägigen Intensivkurs wissen Sie, wie rasterelektronenmikroskopische Ergebnisse zu interpretieren sind, bzw. können selbstständig Untersuchungen, wie z.B. röntgenspektrometische Analysen, zur Materialcharakterisierung durchführen.

FELMI-ZFE bietet allen Interessierten aus dem universitären und industriellen Bereich ein umfassendes Spektrum modernster Untersuchungsmethoden zur mikrostrukturellen und mikrochemischen Materialcharakterisierung. Interdisziplinarität, Lehre und Dienstleistungen für die Industrie sind die Grundlage des Erfolges.

• Sie erhalten einen Überblick über die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikrobereichsanalytik von Materialien.
• Sie werden mit den neuesten Entwicklungen der elektronenmikroskopischen Materialanalytik vertraut gemacht.
• Sie lernen, wie Sie aussagekräftige Bilder, Spektren und Elementverteilungsbilder erhalten und wie diese zu interpretieren sind.
• Sie arbeiten selbstständig an modernsten Rasterelektronenmikroskopen.

• Grundlagen (E)SEM (Theorie): Elektronenquellen – Linsen, Elektronen – Proben Wechselwirkungen, Sekundär- und Rückstreuelektronendetektoren, Kontrastmechanismen
• Einflüsse auf Bildaufnahme (Mikroskop)
• Probenpräparation
• Grundlagen Röntgenspektrometrie (Theorie): Informationstiefe, inelastische Streuung, Detektoren (wellenlängen-energiedispersiv), qualitative – quantitative Analysen, Elementverteilungsbilder
• Aufnahmen von Röntgenspektren und Elementverteilungsbildern (Mikroskop)
• Analyse der mitgebrachten Proben (Mikroskop)
• Weitere analytische Methoden (Theorie): EBSD, Variable pressure SEM, Dual Beam (SEM-FIB), Transmissionselektronenmikroskopie, Schwingungsspektroskopie