Rasterkraftmikroskop Tosca 400
Beim Atom-Kraft-Mikroskop (AFM) Tosca 400 wird die Probe mittels einer mechanischen Spitze ‚abgetastet‘, wodurch eine drei-dimensionale Oberflächenanalyse erreicht wird.
Die Messungen liefern hohe laterale und vertikale Auflösung.
Informationen über topografische und mechanische Eigenschaften der gemessenen Oberflächen können so erhalten werden.
Bestimmung von:
Oberflächen Topografie
Messbereich: 100 µm lateral, 15 µm vertical
Mechanischen Eigenschaften
Proben:
Unterschiedlichste Proben können mit dieser Methode vermessen werden.
Zubehör:
Cantilever für Kontakt- und Tappingmodus
Email: somapp@tugraz.at
Ansprechperson:
EngD Glen Smales
Sollten Daten aus Messungen im Somapp Labor in wissenschaftliche Arbeiten einfliessen, so sollte dies in der Danksagung erwähnt werden.
'The authors would like to acknowledge use of the Somapp Lab, a core facility supported by the Austrian Federal Ministry of Education, Science and Research, the Graz University of Technology, the University of Graz and Anton Paar GmbH.’