TU Graz/ Studium/ Studienangebot/ Universitäre Weiterbildung/

Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik: Rasterelektronenmikroskopie (REM)

Sie kommen aus Wissenschaft, Industrie oder auch Forschung? Dieser Kurs richtet sich an alle, die analytische Probleme lösen wollen. Unser qualifiziertes Team erklärt Ihnen Schritt für Schritt den Umgang mit dem Rasterelektronenmikroskop. Nach diesem dreitägigen Intensivkurs wissen Sie, wie rasterelektronenmikroskopische Ergebnisse zu interpretieren sind, bzw. können selbstständig Untersuchungen, wie z.B. röntgenspektrometische Analysen, zur Materialcharakterisierung durchführen.

FELMI-ZFE bietet allen Interessierten aus dem universitären und industriellen Bereich ein umfassendes Spektrum modernster Untersuchungsmethoden zur mikrostrukturellen und mikrochemischen Materialcharakterisierung. Interdisziplinarität, Lehre und Dienstleistungen für die Industrie sind die Grundlage des Erfolges.

Inhalte und Schwerpunkte

  • Sie erhalten einen Überblick über die Möglichkeiten der Rasterelektronenmikroskopie und Röntgenmikrobereichsanalytik von Materialien.
  • Sie werden mit den neuesten Entwicklungen der elektronenmikroskopischen Materialanalytik vertraut gemacht.
  • Sie lernen, wie Sie aussagekräftige Bilder, Spektren und Elementverteilungsbilder erhalten und wie diese zu interpretieren sind.
  • Sie arbeiten selbstständig an modernsten Rasterelektronenmikroskopen.

Der Kurs gliedert sich in folgende Bereiche:

  • Grundlagen (E)SEM (Theorie): Elektronenquellen – Linsen, Elektronen – Proben Wechselwirkungen, Sekundär- und Rückstreuelektronendetektoren, Kontrastmechanismen
  • Einflüsse auf Bildaufnahme (Mikroskop)
  • Probenpräparation
  • Grundlagen Röntgenspektrometrie (Theorie): Informationstiefe, inelastische Streuung, Detektoren (wellenlängen-energiedispersiv), qualitative – quantitative Analysen, Elementverteilungsbilder
  • Aufnahmen von Röntgenspektren und Elementverteilungsbildern (Mikroskop)
  • Analyse der mitgebrachten Proben (Mikroskop)
  • Weitere analytische Methoden (Theorie): EBSD, Variable pressure SEM, Dual Beam (SEM-FIB), Transmissionselektronenmikroskopie, Schwingungsspektroskopie

Zielgruppen und Zulassungsvoraussetzungen

Der Kurs richtet sich an Wissenschafterinnen und Wissenschafter sowie Technikerinnen und Techniker, die Wissen über Rasterelektronenmikroskopie aufbauen oder erweitern möchten.

Für die Teilnahme an diesem Kurs benötigen Sie keine spezifischen Voraussetzungen.

Bildquelle: Margit Wallner – TU Graz

Termine und Fristen

Nächster Kurstermin: März 2020

Eckdaten

  • Dauer: 3 Tage geblockt
  • Abschluss: Teilnahmebestätigung
  • Unterrichtssprache: Deutsch oder Englisch
  • Teilnahmegebühren: 1.050 € (MwSt.-frei) inkl. Kursunterlagen, Pausengetränke und Mittagessen
  • Kursort: TU Graz, Steyrergasse 17
  • Anzahl der Teilnehmerinnen und Teilnehmer: max. 5
Bildquelle: Margit Wallner
Stefan Mitsche, wissenschaftlicher Leiter des Kurses

Es ist immer wieder aufs Neue spannend, mit einer kleinen, äußerst heterogenen Gruppe zusammen zu arbeiten. Die Teilnehmerinnen und Teilnehmer kommen aus dem In- und Ausland und aus den verschiedensten Bereichen – von der Telekommunikation bis hin zur Pharmabranche oder dem Automobilsektor. Dadurch tun sich auch für uns immer andere, neue Blickwinkel und Sichtweisen auf, genauso wie potentielle Kooperationen für die Zukunft.

Warum Sie an diesem Kurs teilnehmen sollten

  • weil Sie von mehr als 20 Jahren Erfahrung und Expertenwissen des Instituts für Elektronenmikroskopie und Nanoanalytik (FELMI) der TU Graz profitieren können
  • weil Sie an modernsten Rasterelektronenmikroskopen (Zeiss Ultra, FEI ESEM Quanta 600 und 200) mit Feldemissionsquellen und Röntgendetektoren arbeiten
  • weil Sie eigene Proben mitbringen und unter fachkundiger Anweisung analysieren können

Kontakt und Anmeldung

Wissenschaftliche Leitung und Organisation

Stefan MITSCHE
Dipl.-Ing. Dr.techn.
Tel.: +43 316 873 8346
smitschenoSpam@tugraz.at